IEC 60749-1984 半导体器件.机械和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 11:29:57 浏览:8594
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法
【标准号】:IEC60749-1984
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;元部件;气候;半导体器件;试验;电气工程;集成电路;机械试验;环境试验;试验方法;气候试验;电子设备及元件;电子工程;半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:59P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法
【标准号】:IEC60749-1984
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电学测量;元部件;气候;半导体器件;试验;电气工程;集成电路;机械试验;环境试验;试验方法;气候试验;电子设备及元件;电子工程;半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:59P;A4
【正文语种】:英语
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